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植物冠層分析儀*
更新時(shí)間：2019-02-22
訪問次數(shù)：1541
植物冠層分析儀*采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式
| 品牌 | 聚創(chuàng)環(huán)保 | 儀器類型 | 便攜式 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器原理 | 其它原理 |
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
一、植物冠層分析儀*產(chǎn)品參數(shù)
鏡頭角度：150°(特殊需求可自選180°鏡頭)
分辨率：768×494pix
測量范圍：天頂角由0°～75°（可分割成十個(gè)區(qū)域）；方位角360°（可分割 十個(gè)區(qū)域）
PAR感應(yīng)范圍：感應(yīng)光譜400nm～ 700nm
測量范圍：0～2000μmol/㎡•S
電 源：7.4V鋰電池組
傳輸接口：USB
工作溫度：0～55℃
二、植物冠層分析儀*使用
1：采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。
2：1.非破壞性地測定冠層結(jié)構(gòu)2.可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)3.手持式萬向接頭自動(dòng)水平調(diào)整探頭，4.隨身攜帶的筆記本計(jì)算機(jī)可以幫助你正確選點(diǎn)取樣，即時(shí)決定圖像的取舍5.由計(jì)算機(jī)電池提供電源極其輕便、便于觀測，尤其適合完成野外繁重的觀測任務(wù)6. 圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū))。對(duì)不同方向的冠層進(jìn)行區(qū)域性分析時(shí)，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問題等)。對(duì)不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件 7.通過USB接口直接將測點(diǎn)圖像顯示在計(jì)算機(jī)上，可以在野外即時(shí)觀察圖像，選擇合理的測點(diǎn)，將圖像存貯。8.半球圖象上可以設(shè)計(jì)任何地點(diǎn)、任何時(shí)間的太陽視運(yùn)動(dòng)軌跡，以及冠層內(nèi)任意時(shí)刻的受光狀況。
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